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ISO10373-6(ISO14443)低速試験用PCDアセンブリ、クラス1〜3

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ISO10373-6(ISO14443)低速試験用PCDアセンブリ、クラス1〜3
10373-6に準拠した非接触型スマートカード（PICCクラス1〜3）の低速（RExt：1オーム）試験用のPCDアンテナと検出コイル

仕　様

低速テストPCDアセンブリは、関連するテスト規格に従って特別に設計されており、事前認証のためのクラス1〜3の非接触スマートカードのアナログテストが可能です。

低速テストPCDアセンブリは、PCD / PICCビットレートが106Kビット/秒未満のテストに対応します。

このアセンブリには、直径150mmのPCDアンテナが2つの検出コイルの間に挟まれています。

それは、カードの物理的、機能的、論理的およびタイミング特性を証明するためのISO 10373-6およびICAO規格によるテストの要件に対応するように設計および校正されています。

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